大学物理光的等厚干涉问题为了精确测量硅片(n0=3.4)上的氧化膜的厚度,常用化学的方法把薄膜的一部分腐蚀掉,使之成为尖劈形,称为“台阶”.已知氧化膜的折射率为n=1.5.用波长为λ=589.3nm

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/04/20 02:43:40
大学物理光的等厚干涉问题为了精确测量硅片(n0=3.4)上的氧化膜的厚度,常用化学的方法把薄膜的一部分腐蚀掉,使之成为尖劈形,称为“台阶”.已知氧化膜的折射率为n=1.5.用波长为λ=589.3nm

大学物理光的等厚干涉问题为了精确测量硅片(n0=3.4)上的氧化膜的厚度,常用化学的方法把薄膜的一部分腐蚀掉,使之成为尖劈形,称为“台阶”.已知氧化膜的折射率为n=1.5.用波长为λ=589.3nm
大学物理光的等厚干涉问题
为了精确测量硅片(n0=3.4)上的氧化膜的厚度,常用化学的方法把薄膜的一部分腐蚀掉,使之成为尖劈形,称为“台阶”.已知氧化膜的折射率为n=1.5.用波长为λ=589.3nm的钠黄光垂直照射到“台阶”上,在台阶处看到5条亮纹.试求氧化膜的厚度.

大学物理光的等厚干涉问题为了精确测量硅片(n0=3.4)上的氧化膜的厚度,常用化学的方法把薄膜的一部分腐蚀掉,使之成为尖劈形,称为“台阶”.已知氧化膜的折射率为n=1.5.用波长为λ=589.3nm
2*n*d=k*λ
所以d=k*λ/(2*n)=4*589.3/(2*1.5)=786nm

大学物理光的等厚干涉问题为了精确测量硅片(n0=3.4)上的氧化膜的厚度,常用化学的方法把薄膜的一部分腐蚀掉,使之成为尖劈形,称为“台阶”.已知氧化膜的折射率为n=1.5.用波长为λ=589.3nm 大学物理厚度干涉求薄膜厚度的问题!急用~!在线等!在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成 求几个大学物理实验的测量数据和计算过程及结果声速的测定,RC串联电路的暂态分析,平行光管的调节和应用,霍尔效应研究,光的偏振现象,等厚干涉--牛顿环、劈尖干涉,用补偿法测量电源的电 如何用光电检测技术测头发丝的直径注明:用光电检测技术测量,而不是用大学物理里面的等厚干涉等方法测量 11题求解(大学物理,光的干涉) 大学物理实验光的干涉物理实验报告怎么写 大学物理光的干涉分振幅法和分波面法产生的光干涉分别是什么? 什么叫做等厚干涉?本问题属于大学物理实验中牛顿环实验中的内容,较为重要的理论基础知识,请详细回答. 大学物理实验等厚干涉的运用中如何判断出待测面是平面还是球面 等厚干涉的入射光是平行光吗 问一个关于光的双缝干涉的问题.如果在光的传播途中测量光子的位置,就会使双缝干涉条纹消失吗? 利用劈尖的等厚干涉条纹如何测量角度,大学物理的,已知入射波长为589.3,相邻暗条纹间距离为5,玻璃折射率为1.52,求此劈尖的夹角. 光的干涉与衍射我发现大学物理中光的干涉中两条纹的间距与光的衍射中两条纹的间距定义不一样,前者好像是AB后者是CD.我不清楚到底是什么请解答光的干涉中条纹等间距,明暗条纹的宽度 牛顿环等厚干涉实验中的u(R)是什么啊?大学物理实验等厚干涉中最后的实验内容与步骤中写到:分别用逐差法和作图法处理数据,计算透镜的曲率半径R和u(R)(钠光波长λ=5.893*10∧(-4mm) 用双缝干涉测量光的波长的误差来源 光的衍射问题.为什么光的衍射射到屏上的光条纹间隔长度不等?但是光的干涉就是等间隔条纹啊. 谁能给个答案吧 实验有:电表的改装与校正、磁滞回线、等厚干涉、单缝衍射的光强分布、光栅的衍射、声速测量、霍尔元件测磁场、地磁场的测量 光的干涉问题光的干涉时,明亮地方的宽度为什么不同